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氣體吸附法檢測(cè)微硅粉(硅灰)細(xì)度的原理是什么?

發(fā)布時(shí)間:2024-12-05人氣:994
氣體吸附法檢測(cè)微硅粉細(xì)度的原理是基于物理吸附現(xiàn)象。在特定溫度和壓力下,氣體分子會(huì)在微硅粉顆粒表面發(fā)生吸附作用。一般使用氮?dú)獾榷栊詺怏w作為吸附質(zhì),當(dāng)?shù)獨(dú)夥肿优c微硅粉表面接觸時(shí),會(huì)因分子間的范德華力而被吸附在顆粒表面.
 

通過(guò)測(cè)量微硅粉樣品在該條件下吸附氣體的量,進(jìn)而計(jì)算出微硅粉的比表面積 。根據(jù)比表面積與顆粒粒徑的反比關(guān)系,即比表面積越大,顆粒粒徑越小,細(xì)度越高,從而得出微硅粉的細(xì)度情況。例如,若微硅粉的比表面積較大,說(shuō)明其顆粒較細(xì),細(xì)度較好.

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